プロセス診断システム TMBee-Atom
AI技術を応用した品質異常の要因分析と異常予兆解析で、プラントの安定操業に貢献
製造現場において、設備やプロセスの異常を予知するためには、工場内で蓄積したデータを有効に活用することが重要です。
近年、大量のデータを有効活用するため AI技術の利用が注目を集めており、製造現場への導入も盛んに行われています。
プロセス診断システムTMBee-Atom※はAIを用いて、設備やプロセスの異常を予知し、プラントの安定操業および生産性向上に貢献します。
- ※ TMBeeは設備診断・プロセス診断のためのシステムの当社商標です。
概要
プロセス診断システムTMBee-Atom※は、AIを用いて、プラント内の製造工程での異常を予知するシステムです。
計装制御システムなどで収集・蓄積したプラントの各種の情報を活用して、製品の品質などの異常の要因を分析および、異常発生の兆候を検出します。これにより、設備やプロセスの異常を予知し、プラントの安定操業および生産性向上に貢献します。
- ※ Atom: AI for Total OptiMization
特長
■異常の要因分析が可能
AI解析により異常要因をリスト化し、異常の要因を特定します。
■予測トレンドで異常予知が可能
予測トレンド上で異常を予測します。関連機器を操作することにより異常を回避します。
■AIノウハウが無くても解析可能
大量の項目数から自動的に関連データを抽出するため、AI分析前のデータ選定が不要です。
また、モデル解釈性が高く、解析結果を分かりやすく表示します。
■プロセスデータ特有の急変データや不安定な操業時のデータ解析にも対応
遅れ時間を考慮した解析が可能です。また、AI解析に影響を与える急変データ※1の平滑化処理など、前処理機能を標準で搭載しています。
※1 急変データ：通常操業時の中で、突発的にプロセスに関係するデータが変化した状態
機能概要
- プロセスデータベースで、長期間のデータを蓄積可能です
- トレンド、帳票、及びメッセージなどの画面機能を搭載しています
- X-Y分析機能で、X-Y分布グラフ上に相関関係のある２つのタグの正常範囲を設定し、正常範囲を逸脱した場合に警報を発報します
- 他社データベースやDCSとの接続も可能です
システム構成
事例紹介
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