大容量・高効率
高圧瞬低補償装置(MPC)

予期しない
電源障害から守る

国内における電力供給の信頼度は海外と比較して安定しており、
人が認識できるレベルの停電や電圧異常は日常生活において、少ないとされています。
しかし、発生の大半が台風や雷、雪などの自然現象によるため皆無にすることはできません。

MPC1000/2000/3000

半導体工場や液晶工場などの製造ラインにおける製造設備は、
電源変動に非常に敏感で雷や風雪による瞬低の影響を受けやすいとされています。
落雷等により電力系統に送電線事故が発生した場合、事故点を切り離すまでの数10m秒~2秒程度、
事故点を中心に広い範囲で電圧が低下する現象が起こります。
これが瞬低(瞬時電圧低下)です。

瞬低により稼働中の製造ラインが停止してしまった場合の損失は大きく、
電源異常による製造不良、データ消失、納期遅れなどの被害が発生します。
この瞬低による問題から、お客様の製品や製造ラインを守るのが「瞬低補償装置(MPC)」です。

瞬時電圧低下の発生頻度

地域差はありますが、平均すると20%以上電圧が低下する瞬時電圧低下の回数は1年で約5回。
瞬時電圧低下の継続時間は20秒以下が20%以上、36秒以上が10%程度と言われています。

引用先)社団法人電気協同研究会
電気協同研究 第46巻第3号 平成2年7月

瞬低発生要因(H21〜H22)

瞬低の発生要因は、約83%が雷で自然災害が全体の約90%以上を占めます。

瞬低発生要因(H21〜H22)

瞬低対策の必要性

半導体プロセス装置の電圧低下耐量試験規格であるSEMI F47や、
情報処理装置の瞬低耐量設計指針であるITI(Information Technology Industry Council)の規格によると、
20ms(0.02秒)以上の瞬低であれば負荷機器に影響が及ぶ可能性があるとされています。

①半導体プロセス装置の電圧低下耐量試験規格・SEMI F47 ①半導体プロセス装置の電圧低下耐量試験規格・SEMI F47

②情報処理装置の瞬低耐量設計指針・ITI
(Information Technology Industry Council)
②情報処理装置の瞬低耐量設計指針・ITI

また、多くの負荷機器に用いられる電磁接触器は、
5ms以上の瞬低でドロップアウトの可能性があると言われています。

負荷機器の電圧低下耐量例(電磁接触器) 負荷機器の電圧ディップ耐量例(電磁接触器) 負荷機器の電圧ディップ耐量例(電磁接触器)

実測データから電圧が80%(20%低下)で、
継続時間40ms以上で被害が発生していることが確認されており、
瞬低対策が不可欠であることがわかります。

<実測データ> 実測データ