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オゾンガス発生装置/オゾン水製造装置

オゾンガス発生装置

特長
1. 窒素ガス無添加方式で超高濃度のオゾン発生
独自の電極構造の開発で、最大400g/m3(N)の業界トップクラスの超高濃度を達成しました。
2. 窒素ガス無添加方式で金属コンタミネーションの発生を抑制
窒素酸化物の発生を極限まで抑えた*1クリーンなオゾンガスは、更に微細化するパターンの品質維持や膜質の向上が図れます。
*1:窒素酸化物濃度0.01ppm以下(当社従来比1/10000)
3. 独自の極短ギャップ放電技術を継承
立ち上がり特性、安定性、冷却効率に優れた独自の極短ギャップ放電技術を継承しています。
4. 国際規格に対応
CEマーキング、SEMI-S2の国際規格対応機をラインアップ。

オゾン発生部構造図/オゾンブルー

オゾンガス中の金属コンタミネーション量

単位:ng/m3

元素 Na Al K Ca Ti Cr Mn Fe Ni Cu Zn
オゾンガス N.D. N.D. N.D. N.D. N.D. N.D. N.D. N.D. N.D. N.D. N.D.
検出限界 1.5 3.0 1.5 3.0 1.5 0.3 4.0 1.5 4.5 3.0 3.0

注1:参考値です。

オゾンガス発生装置

H series
窒素添加レス方式で業界トップクラスの超高濃度のオゾンガスを発生。
・主な用途…半導体製造プロセス 他
詳細
P series
窒素添加レスの高純度酸素のみでクリーンなオゾンガスを発生。
・主な用途…半導体製造プロセス 他
詳細
C series
半導体製造プロセスに最適でクリーンなオゾンガスを発生。
・主な用途…半導体製造プロセス 他
詳細
N series
一般酸素を利用し、高濃度オゾンガスを発生。
・主な用途…半導体製造プロセス、化学プロセス、食品製造プロセス、水処理 他
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オゾン水製造装置

概略フロー

オゾン水製造装置概略フロー図

オゾン水製造装置

U series
半導体製造プロセスに最適でクリーンなオゾン水を製造。
・主な用途…半導体製造プロセス、精密機械部品洗浄 他
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電極接合装置/透明導電膜成膜装置

電極接合装置

特徴
1. 強化ガラスや成膜基板にアルミ電極をダイレクトに接合

2. ハンダ、ペーストなどの消耗品が不要

3. ダイレクト接合により接触抵抗を低減、導電性が向上

4. 省エネルギーでクリーンな常温接合プロセス

5. 独自技術によりガラスへダメージのない接合を実現
基本機能
・任意ピッチの自動送り機構
・アルミリード線のテンション制御
・接合条件(時間、エネルギー、変形量)モニタリング
・接合品質を安定化するリード線押え機構
・加圧力モニタリングによる精密な圧力制御
・目視確認のための圧痕モニタリング
接合実績
・ガラス基板(ガラス厚み:0.65~4mm)
 強化ガラス、青板ガラス、石英ガラス 等
・基板接合面材質
 ITO,ZnO,Ag,Cr,Al,Ti,Ni 等
・ワークサイズ(mm)
 □100, □300, 500×1000, 600×1200 等

電極接合装置 イメージ

透明導電膜成膜装置

特徴
1. ミストを利用した非真空プロセスにより、イニシャル/ランニングコストを低減

2. ZnOの低温成膜を実現(120ºC~)<特許申請済>

3. 長波長領域での透過率を向上<特許申請済>

4. ZnMgOのバンドギャップエンジニアリングが可能

5. 大面積にも適用可能

透明導電膜成膜装置 イメージ

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プロダクト